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一點校準

又稱為偏移或校正值，可以使用4種方法進行該調(diào)整:
1.簡單零校準調(diào)整
測量沒有涂層的基體。如果測厚儀未在所用探頭的誤差范圍內(nèi)顯示0，將探頭從表面移開并按+鍵/-鍵調(diào)整數(shù)值，直至屏幕顯示0。測量并調(diào)整，直至多次測量基體的平均值為0。
2.平均值零點校準
要在粗糙表面或曲面上讀取到0,首*方法是多次測量沒有涂層的基體的厚度并計算結果的平均值。

零點調(diào)整

①選擇零點調(diào)整菜單選項。
②按+鍵選擇用于計算平均值的讀取次數(shù)(通常測量3-10次)。讀數(shù)的差異越大，應增加讀取次數(shù)以計算出平均值。
③重復測量基體。測厚儀會在相鄰讀取操作之間等待兩秒，使用戶能夠將探頭正確放置在被測表面上。完成后一次測量后，測厚儀會對讀取數(shù)據(jù)進行計算并顯示0，它表示所有零點調(diào)整測量操作的平均值。
3.簡單調(diào)整至已知厚度
有時需要將測厚儀調(diào)整至某個已知厚度(例如，校準箔厚度)而不是0。
測量被測物體。如未獲得期望讀數(shù)(在誤差范圍內(nèi))，將探頭從被測表面移開，然后按+鍵/-鍵將顯示的讀取數(shù)據(jù)調(diào)整為期望厚度。按住按鈕可增加調(diào)整速度。按確認鍵。
4.平均調(diào)整至已知厚度
對于粗糙表面或曲面，首*方法是多次測量已知厚度并計算結果的平均值。

一點調(diào)整法

①選擇一點調(diào)整法菜單選項。
②按+鍵選擇用于計算平均值的測量次數(shù)(通常測量3-10次)o測量讀數(shù)的差異越大，應增加讀取次數(shù)以計算出平均值。
③重復測量已知厚度的被測物。測厚儀會在相鄰測量操作之間等待2秒，使用戶能夠將探頭正確放置在被測表面上。完成后一次測量后，測厚儀會計算并顯示讀數(shù),它表示所有測量操作的平均值。如果未獲得期望讀數(shù)(在誤差范圍內(nèi))，將探頭從被測表面移開，按+鍵/-鍵將顯示的讀數(shù)調(diào)整為期望厚度。按確認鍵。
兩點校準
適用于非常規(guī)基質材料、形狀或情況。在有限、特定范圍內(nèi)提供更高的精度。此方法需要對已知厚度值執(zhí)行兩次測量操作:一個較薄的數(shù)值(可以為零)和一個較厚的數(shù)值。被測物的厚度范圍應該在這兩個值的范圍內(nèi)。

兩點調(diào)整法

①選擇兩點調(diào)整法
②按+鍵選擇用于計算較薄值平均值的測量次數(shù)(通常測量3-10次)。讀數(shù)的差異越大，應增加測量次數(shù)以計算出平均值。
③重復測量較薄值。測厚儀會在相鄰測量操作之間等待2秒，使用戶能夠將探頭正確放置在被測表面上。完成后一次測量后，測厚儀會對讀數(shù)進行計算并顯示一個厚度值，它表示所有測量的平均值。
④將探頭從被測表面移開，然后按+鍵/-鍵將顯示的讀取數(shù)據(jù)調(diào)整為較薄值的已知厚度值。按確認鍵。
⑤對較厚值重復第2~4步。
鎖定校準設定：該項被激活時，將顯示圖標并鎖定當前校準設置以防止用戶另作調(diào)整。
N鎖：該選項僅限FN兩用探頭。對非鐵基體進行常規(guī)測量時，請選擇N鎖定。探頭在測量時，只使用渦流方法。這可以縮短測量時間并延長電池使用時間。
校準重置：該功能可將校準設置恢復成為出廠校準。